AFM-målinger med Easy Scan AFM-mikroskoperne tager typisk ganske lang tid. Dette skyldes, at hvis man skanner for hurtigt vil man på meget kort tid slide AFM-tippen i stykker. Da tippen både er relativt dyr og besværlig at udskifte, vil man derfor gerne undgå dette.
Den nuværende scannehastighed på 0.7 sekunder pr. linje er imidlertid kun baseret på producentens standartanbefaling - ikke på konkrete erfaringer. I dette projekt er det derfor opgaven at foretage en række skanninger på forskellige overflader for at undersøge hvilke konkrete belastninger tippen kommer ud for ved forskellige skannehastigheder. Eksempelvis skulle man forvente at det var muligt at skanne væsentligt hurtigere ved små skanneområder, hvorimod at en relativt ru overflade må påkræve lavere hastighed.